产地:美国 主要特点: 1) EX-6600 SDD 为您提供了zui*的灵敏度和选择度。 2) SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点,与Si-PIN 探测器相比,SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。 3) 8 个二次靶为快速精确的定量分析提供了zui大程度的灵敏度,甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。*自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。 4) EX-6600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。 5) 10个位置的自动进样器整体设计允许了zui低限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。 6) 该仪器检测快速,精准,使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低。 7) 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。 指标参数: 测量能力 | | 测量范围 | C(6)-Fm(100) | 元素含量分析范围 | ppm - 100%(在应用领域中) | X光管 | | X光源 | Rh – 阳级标准 | X-射线电压 | 60kV, 300W | 激发模式 | 二次靶激发模式 | 稳定性 | 室温条件下精确到0.1% | X光探测器 | | 探测器 | 硅锂探测器(SDD),避免使用液态氮 | 分辨率 | 136 eV ± 5eV at 5.9 keV. | 窗口 | Be | 特性 | | 自动成样 | 10个位置 | 工作条件 | 空气/真空/氦气 | 滤光片 | 8款可选的软件 | 二次靶 | 8款可选,Ge,Zr,Si,Ti,Fe,Mo,Sn,Gd. | 电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz | 脉冲加工 | 多信道分析 | 光学 | WaG ® (广角几何) | 尺寸(L×W×H,cm) | 85×85×105(不含包装),145×95×135(含包装) | 重量 | 170Kg(净重),200Kg(总重) | 样品室尺寸 | 直径28cm,高5cm | 电脑 | 集成 pc | 软件 | | 操作软件 | nEXt,运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 | 控制 | 样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制 | 光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告 | 定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。 | 报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |
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