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x荧光镀层膜厚仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。 
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ 数字半导体探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。 
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。 
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。 
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。 
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。 
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。 
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。 
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。

x荧光镀层膜厚仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持*。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持*。