光电器件高低温箱，频率元件老化箱，电声器件失效分析机
产品简介
详细信息
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| 执行标准.中国国家标准分为强制性国标（GB）和推荐性国标（GB/T） 中国国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件 中国国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 中国国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件 重庆高低温试验箱 满足标准 电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热 电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷 电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热 美用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度 美用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温 美用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温 美用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验 美用标准,MIL-STD810D方法502.2 美用标准,MIL-STD810方法507.2程序3 重庆高低温试验箱 日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态 日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热 日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温 美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验 美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验 美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验 重庆高低温试验箱 中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温 中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温 中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法 中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验 中国国家标准,GB/T2423.4-93方法 重庆高低温试验箱 中国国家环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验 |
| ◇型号规格及主要技术参数 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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