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µPhase® UNIVERSAL - 干涉仪

供应商:
北京全欧光学检测仪器有限公司
企业类型:
其他

产品简介

μPhase®UNIVERSAL-适用于所有测量的水平式干涉仪μPhase®UNIVERSAL适用于研发中的测量,是μPhase系列比较灵活的检测仪器

详细信息

μPhase® UNIVERSAL - 适用于所有测量的水平式干涉仪

μPhase® UNIVERSAL 适用于研发中的测量,是μPhase系列比较灵活的检测仪器。水平式设计可以测量多种类型的镜头以及不同尺寸,半径、材料的光学部件。

干涉仪测量的样品



主要特点

*通用的2,4,6英尺的测量系统,可检测平面和球面;

*水平机身,允许测量曲率半径;

*半径测量系统集成导轨和光栅尺;

*与4英寸标准球面物镜相兼容;

*可选CGH,用于测量非球面、柱面、环面等;

*依需求可检测传输能力或同质性;


μShape®干涉仪软件

每个μPhase干涉仪都提供了一个应用的μShape软件的版本。它用于测量平面、球面、圆柱面、复曲面和非球面或波阵面的形貌,适用于生产,实验室和研究,附加模块可以使软件适应客户特定的需求,即使购买了μPhase系统,也可以随时添加这些模块。

该软件控制和显示测量结果,存储和记录所有测量的原始数据,并确保透明度和可追溯性。

凭借其清晰的驱动用户界面,μShape满足各种测量要求,并提供几个扩展μShape功能的模块。



μShape干涉仪软件



应用

*不同用户等级。不同权限;

*轻松设置所欲测量与分析任务;

*图形窗口可以以多种图像格式存储(bmp,jpg...);

*可将个人参数货数据导出为文本,二进制或其他通用文件格式(例如,QED,Zygo,XYZ,DigitalSurf);

*测量结果以参数货2D,3D图形方式呈现;

*测量协议结果一目了然,客户可自定配置;

*常用功能的快捷方式;

*校准和测量过程的摄像机图像单独可视化;

*μShape 问题中存储所有参数和设置(包括窗口大小、位置、样本数据);

*持续改进,定期更新;



多个孔径附加


附加模块

为便于测量扩展与进一步分析,μShape软件提供了多种拓展模块,如下所示:

*在球面或CGH设置中分析非曲面;

*分析圆柱或环面;

*外部通讯接口,允许外部程序控制干涉仪,如在自动化系统中;

*可检测玻璃板的同质性;

*可聚焦或不可聚焦元件与系统的MTF的分析;

*可一次测量多个孔径,如在抛光磨头上;

*同时统计分析多个子孔径;

*棱镜和楔角的检测与分析;

*考虑已知样品偏差,例如光学设计偏差;

*软件分析工具可弥补车床的加工误差;

*晶片分析;

*粗糙度与PSD分析;

*静态条纹分析,用于不稳定环境中进行快速测量;


软件附加项

Asphere分析模块

非球面模块在非球面设置中使用计算机生成的全息图(CGH)分析旋转对称的非球面,在球面设置中分析非球面,可输入和存储非球面数据,支持多种格式,非球面拟合能够除去调整误差和系统设置的误差。


Cylinder分析模块

Cylinder模块可在cylindrical设置中分析圆柱形样品(使用CGH),圆柱形拟合能够除去调整误差。


外部接口模块

外部接口模块允许μShape和外部软件之间进行通讯,如 LabVIEW。


光纤连接模块

光纤连接附加模块根据国际IEC惯例提供PC型(物理接触)光纤连接器端面分析,一次完成主要参数的测量并可选择显示“通过/未通过”结果。


同质性模块

在这一模块中,两个影响通过样品光路的参数—同质性(折射率变化)和厚度变化能够被确定。


横向拼接模块

借助外部控制与分析程序μStitch,您的干涉仪可以以子孔径测量较大的平面或球面样品,并将它们拼接在一起。


数字模块

在这个模块中,不同的数据图可通过数字计算分析生成附加结果的图形,暂不可进行矩阵操作。


多孔径分析模块

该模块能够在一个视场角范围内对未连接的子孔径进行测量和分析,例如测量固定在抛光磨头的部分。


多重统计分析

当样品规格规定不同样品子区域的不同限制时,MultiStat模块可在一次测量中完成相关计算,并分列出每个区域的结果。


棱镜分析模块

90°直角棱镜的角误差与楔角角度可通过分析角度偏差造成的干涉条纹图样。


样品标准数据模块

样品标准数据能够考虑附加的样品误差,例如,与设计相关的标准误差参数。


工具补偿模块

应用于μShape软件的工具补偿模块能够补偿转台的准直误差。


晶片分析模块

晶片分析允许将矩形区域内尺寸的圆形孔径进一步分类,并通过算数平均值表征每个子区域。


Torus分析模块

在Torus软件的辅助下,附加环形样品在toric或spherical设置中被分析,余下调整误差可通过环形拟合消除。适合检测隐形眼镜和晶片模型。


楔形分析模组

楔形分析模组使用待测样品后的辅助镜,可经一次测量确定平面镜与光学平板的楔角。


用户定制模组

TRIOPTICS开发了软件的干涉测量功能,并提供可定制的测量程序,计算特定参数,依需求显示和输出数据,您可联系我们满足您的更多测量需求。



μPhase UNIVERSAL
样品类型 平面

球面
环面
非曲面
柱面

样品尺寸(测量范围) 可达φ150mm,样本大小取决于版本和测试镜头
样品重量(MAX) 1.5kg
校准工具 手动XY方向调整、倾角调整和Z轴调整
测量半径范围(MAX) 2m

升级与配件

μPhase具有模块化的系统,其应用范围可通过升级软件与配件进行拓展,下列配件与功能都可额外购买。


μPhase 500高分辨率

μPhase 500相机分辨率可被升级为1000 x 1000像素。该功能可在购买时或之后实现。


配件

多种测量镜头

所有μPhase设备都具有卡口连接功能,可实现不同配置之间快速和简便的交换,是干涉仪的应用范围在购买后仍可继续扩大。


平面、球面参考表面

各种直径的无涂层表面或镜面表面,以实现对比度和测试目标适应性。


分析

不直接连接μPhase硬件也可以离线分析与文档整理。