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BOK-F连续可变角附件是一款高性能研究级别的镜反射附件，其的可变角光学设计使其可以控制光束穿透样品的深度，进行深度剖面研究。通过改变BOK-F连续可变角附件的入射角可以优化从单分子膜到相对较厚的薄膜的实验过程。 典型应用包括深度剖面、单分子膜和超薄膜分析、聚合物取向测定和光谱电化学等。同时我们也是国内的变角电化学附件供应商（半球形ATR/MEMS硅ATR），可取代Pike等国外附件，主要应用于电池研究，界面化学研究等。

特点：

1、30-80°入射角连续可调

2、半球形ATR晶体,连续变角扫描时无需更换可配置

3、可配置SIE表面增强型红外光谱晶体

4、四种晶体材料( Si、znse、ge、caf2)可选弹簧式金触点电极设计

5、采用PEEK和玻璃池身,耐腐蚀可选高压夹具,用于薄膜、涂层或粉未取样

BOK-F连续可变角附件使用表面增强红外光谱技术(ATR- SEIRAS)替代半球晶体,极大的减少光谱吸收损失,拓展应用范围,为客户在中远红外区进行测试提供了极大的便利。BOK-F连续可变角附件能够对带电金属溶液界面进行基础研究,并在分子自组装、界面传感和下一代能源解决方案中应用。