高精度3D激光测量系统
产品简介
详细信息
产品介绍
Delph系列高精度3D激光测量系统采用非接触光学测量原理，通过光栅
投影的方式实现点云获取，搭载机器人、导轨、转台等运动机构实现大范围柔
性测量，高密度点云测量，真实还原物体的丰富表面细节。3D激光测量系统因
其效率高、精度高、数据量大、成本低、环境要求低等特点。可实现物体形状
测量，如高度差、宽度、角度、半径等测量。通过移动物体实现3D扫描，并可
以保存为点云文件。
软件界面
产品特点
· 1280测量点每扫描线
· 测量重复精度0.2 μm
· 通过千兆以太网数据传输
· 位置补正消除倾斜误差
· 638nm红色激光，IP67防护等级，可检测玻璃和高反光材料
产品应用
应用场景：模型与实物对比检测误差；检测表面的平面度，凹凸缺陷；计算体积，某个高度下的面积；凸起OCR识别等
