半导体步入式高低温试验室

半导体步入式高低温试验室

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2022-06-02 14:12:43
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产品简介

东莞LED步入式环境试验室-半导体步入式高低温试验室产品用途及特点:本系列产品均采用拼板组装结构,现场安装、调试,并配独立的控制柜或操作台,工作室容积较大,用于模拟大气环境中的温度、湿度、盐雾、光照、风、雨、振动等单一或复合环境因素,对大批量元器件或整机在拟定环境条件下的性能、行为作出分析和评价,可同时用于实验室和生产。

详细介绍

东莞LED步入式环境试验室-半导体步入式高低温试验室

产品名称:步入式高低温试验室
详细说明:

LED步入式环境试验室-步入式高低温试验室
 
产品用途及特点:本系列产品均采用拼板组装结构,现场安装、调试,并配独立的控制柜或操作台,工作室容积较大,用于模拟大气环境中的温度、湿度、盐雾、光照、风、雨、振动等单一或复合环境因素,对大批量元器件或整机在拟定环境条件下的性能、行为作出分析和评价,可同时用于实验室和生产。
 
 
主要技术规格参数
产品名称
型号
工作室尺寸
(㎜)
容积
(m3)
温度范围(℃)
备注
执行/满足标准
1
高温试验室
HTT1003F
1600×1250×1500
3
R.T.+10~+100℃
 
GB11158-89
GB2423.2-89
IEC68-2-2-Ba
GJB150.3-86
2
HTT1005F
2000×1250×2000
5
3
HTT1008F
2000×2000×2000
8
4
HTT1010F
2500×2000×2000
10
5
HTT1015F
3750×2000×2000
15
6
HTT1020F
4000×2500×2000
20
7
HTT1025F
4000×2500×2500
25
8
HTT1030F
4000×3000×2500
30
9
HTT1050F
5000×4000×2500
50
10
HTT1080F
8000×4000×2500
80
11
HTFF1100F
10000×4000×2500
100
12
高低温
试验室
HLT□003F
1600×1250×1500
3
HLT0-F系列
-5~+85
 
HLT2-F系列
-20~+85
 
HLT4-F系列
-40~+85
 
HLT6-F系列
-65~+85
 
 
 
GB10592
GB2423.1-89-A
IEC68-2-1-A
GB2423.22-89-Nb
GJB150.3-86
GJB150.4-86
13
HTL□005F
2000×1250×2000
5
14
HLT□008F
2000×2000×2000
8
15
HLT□010F
2500×2000×2000
10
16
HLT□015F
3750×2000×2000
15
17
HLT□020F
4000×2500×2000
20
18
HLT□030F
4000×3000×2500
30
19
HLT□050F
5000×4000×2500
50
20
HLT□080F
8000×4000×2500
80
21
HLT□100F
10000×4000×2500
100
22
高低温湿
热试验室
HRT□003F
1600×1250×1500
3
HRTR-F系列
R.T+10~+85
HRT0-F系列
-5~+85
HRT2-F系列
-20~+85
HRT4-F系列
-40~+85
HRT6-F系列
-65~+85
 
HRTR-F系列
湿度范围:
60~95%R.H
 
其余湿度范围:
30~95%R.H
GB10586
GB10589
GB/T2423.3
IEC68-2-3
IEC68-2-1
IEC68-2-30
GB/T2423.4
GJB150.3-86
GJB150.4-86
GJB150.9-86
23
HRT□005F
2000×1250×2000
5
24
HRT□008F
2000×2000×2000
8
25
HRT□010F
2500×2000×2000
10
26
HRT□015F
3750×2000×2000
15
27
HRT□020F
4000×2500×2000
20
28
HRT□030F
4000×3000×2500
30
29
HRT□050F
5000×4000×2500
50
30
HRT□080F
8000×4000×2500
80
31
HRT□100F
10000×4000×2500
100
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