FBM212
1394C-AM03
1756-l75
1756-EN2T
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P0971WV

*现货供应

PLC：Allen-Bradley（AB）全系列，Schneider（施耐德）140，GE 通用电气 IC693 IC697 ，西门子 300  400 PLC

DCS：西屋 ovation，福克斯波罗 ，ABB 贝利 INFI90，TRICONEX ESD

伺服驱动/电机：FANUC，Rexroth，KUKA， ABB 机器人，Schneider LX17

板卡：摩托罗拉 Rexroth ABB KUKA Siemens GE MOORE  Siemens
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厦门航拓电气有限公司

xiamen hangtuo Electric Co., Ltd.

地  址：厦门市思明区仙岳路582号嘉怡园16楼 A单元

：王

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（诚信经营）（质量可靠）（进口）（顺丰空运）

30751044-006     30751044-506   DHP Controller II ROM      
30751044-008     30751044-508   DHP Controller II ROM      
30751044-010     30751044-510   DHP Controller II ROM      
30751853-001     EDAC   Error Detect & Correct Bd      
30751856-001     128K MEM   Op Station Mem Board 128K      
30752551-001       DHP Backplane      

 

理想的测量系统在每次使用时，应只产生“正确”的测量结果。每次测量结果总应该与一个标准值相符。一个能产生理想测量结果的测量系统，应具有零方差、零偏倚和所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性。

测量系统所应具有之统计特性

1.测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性。

2.测量系统的变差必须比制造过程的变差小。

3.变差应小于公差带。

4.测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。

5.测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的zui大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。

测量系统分析的标准

1.国家标准;

2.*级标准(连接国家标准和私人公司、科研机构等);

3.第二级标准(从*级标准传递到第二级标准);

4.工作标准(从第二级标准传递到工作标准)。
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