用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。

　　两用型

　　仪器由德国生产，集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能，可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如：

　　* 钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。

　　* 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。

　　* 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。

　　* 铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。

　　* 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。

　　仪器符合标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。

　　仪器特点

　　采用双功能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行准确测量。

　　符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。

　　采用手机菜单式功能选择方式，操作十分简便。

　　可设定上下限值，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

　　稳定性*，通常不必校正便可*使用。

　　技术规格

　　量 程： 0～2000μm ,

　　电 源： 两节5号电池

　　标准配置

　　常规型

　　对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关和标准中称为覆层(coating)。

　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

　　测厚仪的选择方法多种多样，在采购测厚仪是一定要清楚自己所需要的测厚仪的类型，这样在采购时才不会因为选择多样而手忙脚乱，选择适合自己的产品，按照正确的操作流程去使用，用后及时维护，才能延长机器的适用寿命。