铝合金测厚仪铝型材测厚仪概述：

CT－800 型涡流测厚仪（膜厚仪，涂层测厚仪，镀层测厚仪）是一种小型便携式仪器，用于测量有色金属基体上的非导电涂层的厚度，如铜、铝、锌等基体上的油漆、塑 料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器采用涡电流测量原理，符合标准ISO2360和标准GB4957。
      该仪器设计时曾参照国外的同类仪器，与国外仪器性能相同，功能相似。
      采用红宝石耐磨触点的恒压导套式探头，可在各种坚硬、粗糙表面上得到稳定的输出。
该仪器具备以下几种重要功能：
      1、 校准数据关机保留功能：即开机时不必重新校准，关机后，校准数据仍可保留。
      2、 数据统计功能：可输出5种统计参数。
      3、 节电功能：停止测试3分种，仪器自动关机。
      4、 电池欠压指示功能：电池电压过低自动关机。
      5、 蜂鸣音提示功能：蜂鸣音提示有效测量、故障及误操作。.

概技术参数：

1.测量范围：0－200μm;
      2.测量精度：±3%±0.5μm F·S
      3.分辨率：1μm
      4.使用温度：0－40℃
      5.显示器：三位半LCD显示器
      6.电源：9V层迭电池一节，型号6F22
      7.功率：50mW
      8.外型尺寸：80×150×35mm
      9.重量：40g

概键盘说明：

1.ON/OFF－开关键。接通仪器电源。
    2.RES－统计输出键。按下该键五次，将顺次得到一组测量统计结果，分别为平均值、zui大值、zui小值测    量次数和标准偏差。
    3.DEL－删除键。可删除zui后一次测量值。
    4.CAL/ENTER校准键。用于校准仪器。
    5.▽－显示值下调键。在进行校准操作时，用来将显示值调低。还可以与DEL键配合，撤销蜂鸣音或恢复蜂鸣音。
    6.△－显示值上调键。在进行校准操作时，用来将显示值调高。

概测量操作：

1.按下ON/OFF键。接通仪器电源。仪器开始运行自检程序。显示器中所有字符同时出现并闪动一次，然后发出一蜂鸣声，显示出0。表示仪器运行正常，已进入测量状态。对于已校准过或近期已校准过的仪器，此时可进行测量操作。对于*没有校准过的仪器，可用标准片检查一下仪器的精度，或者重新进行校准。
2.测量方法如下：将探头平稳、垂直地落到清洁、干燥、平整的待测试样上，仪器的鸣叫一声，同时显示出涂层厚度值。表明一次测量完成。抬起探头，重新落下，便可进行下一次测量。这样反复5－10次，就可完成一组测量。
    3.按下RES键5次，可依次得到一组统计数据：

MEAN－平均值
       MAX－zui大值
       MIN－zui小值
       N－测量次数
       S－标准偏差

以上英文符将依次出现在显示器的右测。

在统计值显示期间，可随时进行下一组测量，新的测量将清除前一组测量的统计结果。

4.在测量过程中，如因探头放置不稳，显示出一个明显错误的结果，可按下DEL键，删除该值，以免影响测量统计结果的准确性。
    5.测量完毕，按ON/OFF键，关闭电源。为节电起见。该仪器设有自动关机功能，停止操作3分钟，仪器自动关机。
    6.该仪器有电池欠压指示功能。当电池电压不足时，会显示出“LOBAT”字符。此时，应在30分钟内结束测量，更换电池。仪器背面，设有电池仓，打开仓盖，更换电池即可。

五.校准操作

该仪器不必每次使用前都做校准。但是，当基体材料改变时及试样形状改变时，都要进行一次校准。校准时要使用没有涂层的基试块和已知精确厚度值的标准片，基体和标准生要求表面清洁、平整。

1、校准有以下三种方法：

（1）探头远离基体（>15mm），按下CAL键，显示器出现提示“ZERO”、显示值“0.0”。
    （2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平均值。
    （3）连续按下两次CAL键，仪器接受新的零点，退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。

2、多点校准（用基体和标准片校准）

（1）将探头远离基体，按CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
    （2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平昀值。
    （3）按CAL键，仪器自动校准零点。提示“STD1”，显示“0.0”。
    （4）取*标准片，放在基体上，测量5－10次，显示该标准片测量结果的平均值。
    （5）按△或▽键，使显示值与标准片厚度值相等。
    （6）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”显示“0.0”
    （7）重复（4）－（6）的操作，校准其它两个标准片。尔后，仪器退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。

3、特性校准（用已知厚度的参考试样和标准片校准）

（1）探头远离参考试样，按下CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
    （2）按下CAL键，提示“STD1”，显示“0.0”。
    （3）在参考试样上测量5－10次，显示该试测量结果的平均值。
    （4）按△或▽键，使显示值与参考试样厚度值相同。
    （5）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”，显示“0.0”。
    （6）取*标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示测量结果一平均值。
    （7）按△或▽键，使显示值等于参考试样厚度值与标准片厚度值之和。
    （8）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD3”显示“0.0”。
    （9）取第二标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示出测量结果的平均值。
    （10）按△或▽健，使显示值等于参考试样厚度值与第二标准片厚值之和。
    （11）按CAL键，校准结束，显示“0.0”仪器进入测量状态。

注：

1.该仪器不必每次使用都进行校准。只是当发现仪器测量误差比校大时，便可进行校准，根据情况可分别使用上述的三种方法校准仪器。
     2.校准片的选择应使待测件的膜厚值被标准片的厚度值所包含。各步校准所用标准片厚度必须按从小到大顺序选取。
     3.在校准过程中，可用DEL键删除该次测量值。也可使用DEL键，依次删除前几次的测量量，直至回到本步骤的初始状态。
     4.在多点校准和特性校准时，连续按下两次CAL键，可提前结束校准，回到测量状态。
     5.为尽量提高测量精度，在下述情况下应采用外形和材质与待测件相同的基体材料重新校准仪器。