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相控阵探伤仪Omniscan SX在焊缝检测中的应用

时间:2022-04-24      阅读:713

用途广泛的新型Omniscan SX仪器的出现进一步壮大了Olympus业已齐备的创新型市场解决方案库,开发所有这些解决方案的宗旨都是简化检测工作流程,从整体上提高生产效率。

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(相控阵探伤仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、射线探伤仪、着色渗透探伤)

OmniScan PA是Olympus公司为石油和天然气工业开发的手动和半自动相控阵焊缝检测解决方案的核心。这些系统不仅可用于符合ASME、API及其它规范标准的检测,而且还具有高速探测、便于缺陷指示判读的特性。

 

腐蚀成像和复合材料检测

随着OmniScan SX的出现,零度检测变得更为简便易行。在腐蚀或复合材料的检测应用中,Olympus可提供探测材料中异常现象或壁厚损失的经过实地验证的解决方案。

 

TOFD焊缝检测

在主要探测焊缝缺陷的应用中,TOFD是一种简便易行、效率*的检测方法。这种方法不仅可以快速定量在焊缝体积中发现的缺陷(焊缝通常是制造缺陷高发的地带),且其性价比*。

 

组件检测

组件检测利用超声技术,可以探测到裂缝、壁厚减薄以及其它各种缺陷。OmniScan SX既可以使用角度声束,也可以使用线性零度声束,因此成为完成这类单组检测应用的一个性价比*的解决方案。

Olympus不无自豪地为广大用户推出了研制的OmniScan® SX,这是一款积累了20多年探索相控阵技术的经验,体现了OmniScan精华的探伤仪。为了更加方便地使用仪器,OmniScan SX在其8.4英寸触摸屏上使用了合理简化的新型软件界面。OmniScan SX是一款单组无模块仪器,针对检测要求较低的应用,这款仪器操作极为方便,性价比*。

360 View

OmniScan SX有两种型号:SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控阵单元,与仅具有UT通道的SX UT一样,也配备了一个常规UT通道,可以进行脉冲回波、一发一收或TOFD检测。与OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量轻33 %,体积小50 %,具有OmniScan产品的更为轻巧便携的性能。

OmniScan SX触摸屏配有全屏模式选项,使清晰度达到zui大化,用户仅需在触摸屏上进行简单操作,便可访问许多菜单功能。直观的界面使用户可以流畅地进行菜单选择,缩放,闸门调节,光标移动以及文本和数字的输入。以上这些特性,加上其它附加的集成功能,包括浅显易懂的设置和校准向导,迅捷的S扫描和A扫描显示更新率,和快速的脉冲重复频率(PRF),使OmniScan SX成为一款的检测工具。

 

OmniScan SX能与Olympus数量庞大的扫查器、探头和附件产品,及其专门的配备软件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和软件产品的完整结合,使检测流程从设计、设置到采集、分析变得精简有效。

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