EPOCH 650新型大屏超声波探伤仪
时间:2022-04-24 阅读:407
EPOCH 650新型大屏超声波探伤仪|上海如庆电子科技有限公司提供
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标准配置
- EPOCH 650数字式超声探伤仪,AC电源操作或电池操作
- 适配器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC,50 Hz或60 Hz)
- 充电锂离子电池
- 储运箱
- USB线缆
- 简易入门说明书
- 信息全面的操作手册(CD)
EPOCH 650型仪器具有品质上乘的超声性能。这款仪器基于与EPOCH 600和EPOCH 1000系列仪器相同的数字式结构, 脉冲发生器/接收器 EPOCH 650型仪器的标准配置具有强大的缺陷探测性能,如:
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标准软件特性
动态DAC/TCG:对比DAC曲线或对比根据时变增益确定的参考回波波幅,以百分比或以分贝水平计算信号波幅。DAC版本包含标准、ASME 3、JIS和自定义。此外还包括以下几个主要特性:可动态调整的DAC曲线、可切换的DAC和TCG视图、自定义DAC警告曲线,以及20-80% DAC视图。
DGS/AVG:这是一种利用与特定类型探头和材料相关的DGS/AVG图形,评估回波信号的缺陷定量技术。
DGS/AVG图形表明回波高度、缺陷尺寸以及到探头的距离这些参数之间的关系。
AWS D1.1和D1.5:为各种不同的AWS(美国焊接协会)焊缝检测应用提供一个动态反射体缺陷指示定级的标准。这个功能省去了手工计算的步骤,从而提高了检测效率。
提供选购功能,增强多用性能
界面闸门:这个可选购的第三个测量闸门,可对变化的界面回波进行实时跟踪,以保持数字化测量的稳定性。 腐蚀模块:简化的腐蚀模式具有以下功能:基于所选探头的自动超声设置、自动增益控制(AGC)、厚度测量算法、V声程校正,以及利用自动零位功能(零位补偿)完成的探头磨损补偿。此外,还具有彩色编码栅格视图和编码B扫描。 |
模板存储:可在屏幕上将实时波形与所保存的参考波形对比。只需按下相关的一个按钮,即可随时切换保存模板的开启或关闭状态,进行快速波形对比。对于点焊分析及其它应用,这个功能非常实用。
底面回波衰减器(BEA):利用闸门2定义的屏幕区域使被测工件的底面回波得到衰减。
API 5UE:可按照API建议的程序5UE进行缺陷定量。在OCTG管材的验证过程中,使用波幅距离差分技术(ADDT)测量潜在的缺陷尺寸。
波形平均:这个功能可使实时A扫描代表采集到的A扫描平均值,平均除数为2、4、8、16、32。
数据记录和PC机连接
数据管理 EPOCH 650型仪器提供多种存储、归档、报告检测数据和校准数据的方法。 仪器的机载存储容量多达100000点,此外,仪器还可进行视频记录和回顾操作。仪器还与奥林巴斯的PC机接口程序GageView Pro*兼容。快速的文件设置功能和灵活的数据管理功能使得仪器对检测数据的记录及报告变得简单有效。 | 机载报告制作 EPOCH 650型仪器可以在仪器中以多种格式生成报告。可以将屏幕截图方便地存储在可插拔microSD卡中,也可以导出保存在.csv或.xml文件中的数据。仪器还具有为单个数据点或整个文件生成位图报告的功能。 EPOCH 650型仪器的标准配置带有视频记录功能。 用户可以每秒钟60帧的速度截获多8分钟实时A扫描检测数据。用户可以在EPOCH 650仪器上回顾这些数据,还可以将这些数据导出到PC机中进行查看。 |
数据记录器 EPOCH 650型仪器有一个用于存储校准文件和检测文件的机载数据记录器。仪器的标准配置有两个主要文件类型:校准(CAL)类型文件和增量(INC)类型文件。CAL文件可以保存几乎无*的参数设置。所保存的设置可被快速方便地调用到当前设置。INC文件可在单一文件名称下保存多组检测数据,检测过程中可以下载和报告这些数据。 EPOCH 650型仪器标准配置中的腐蚀类型数据记录器文件类型具有齐全的功能,增强了机载数据记录器的性能。这个特性包含以下数据文件类型:序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、锅炉型、2-D EPRI型。
EPOCH 650型仪器与我公司的PC机接口程序GageView Pro*兼容。通过这个程序,检测人员可下载检测数据、在PC机上回顾测量数值、将测量和校准数据导出到普通的电子数据表程序、备份仪器中的校准和检测数据、进行如仪器固件升级和屏幕捕获的基本操作。 microSD EPOCH 650型仪器使用一个外置microSD存储卡(含2 GB,可支持容量达64 GB)作为机载和移动存储设备。通过这个移动存储装置,检测人员可以在不同仪器之间分享文件,并以各种不同格式输出报告。第二个2 GB microSD卡安装在仪器中的PC板上,用于所有机载数据的存储。在仪器被损坏无法修复时,可到授权的服务中心将仪器中的microSD卡取出,从损坏的仪器中拯救出关键性的数据。 |