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ROHS检测仪器
产品特征
* 采用能量色散 X 荧光分析技术（ EDXRF ），实现多种元素同时测量。
* 可根据用户的应用要求配置为从 Na 到 U 的任意多种元素。
* 采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征 X 射线的探测效率。
* 采用 50W 侧窗 X 射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。
* 基于 Windows2000/XP 的程序功能丰富，各种图表和趋势图为决策提供*直观的支持。数据可直接输出到
Excel ，便于进行统计分析。
* 备有基于神经网络模型的经验系数法建模，非常稳定可靠。
UX-300 | ||||
分析原理 | 能量色散 X 射线荧光分析法 | |||
分析元素 | Na ～ U 任意元素 | |||
检出下限 (Cd/Pd) | Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦ 5 ppm | |||
样品形状 | 任意大小，任意不规则形状 | |||
样品类型 | 塑胶 / 金属 / 薄膜 / 粉末 / 液体 | |||
X 射线管 | 靶材 | Mo | ||
管电压 | 5 ～ 50 kV | |||
管电流 | *大 1 ～ 1000 μ A | |||
照射直径 | 2 、 5 、 8mm 自动转换 | |||
探测器 | Si(PIN) 半导体高分辨率探测器 | |||
滤光片 | 八种新型滤光片自动选择 | |||
样品定位 | 微动载物平台（选配） | |||
样品观察 | 30 倍彩色 CCD 摄像机 | |||
微区分析 | X 光聚焦微区分析系统（选配） | |||
软件 | 定量分析：α系数法 WINDOWS XP | |||
数据处理 | 主机 | PC 机 | ||
内存 | 256 MB 以上 | |||
硬盘 | 40 GB 以上 | |||
OS | Windows XP | |||
工作环境 | 温度 | 10 ～ 35 ℃ | ||
湿度 | 30 ～ 70%R H | |||
電源 | AC 220 V ± 10 % 、 50/60 Hz | |||
功率 | 1.1kW | |||
重量 | 40Kg | |||
外形尺寸 |
| 610(W) × 750(D) × 500(H)mm | ||
