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典型的应用领域有:
>测量大型工件的镀层,如:机械零件和外壳
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样,本款仪器有着确性以及长期的稳定性,这样就减少了校准仪器所需的时间和精力。
XAN500采用硅漂移探测器能够达到高的分析精度及探测灵敏度。FISCHER*基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。仪器可以安全放置到工件上,无论是镀层测厚或者材料分析,都可以保证其测量结果的再现性。同时,仪器可选配便携式智能箱,使其成为小型的台式测量设备,以便检测小型样品。