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Surfix N非铁基统计型测厚仪
特点:
8.有红外可接PC及打印机
技术参数： 测量范围 0-1500µm,0 - 60mils 误差 ±(1µm+1%读数） 分辨率 0.1µm或小于读数的2% 显示 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 基体最小面积 5mmX5mm 基体最小曲率 凸面：1.5mm 凹面：5mm 基体最小厚度 F型：0.2mm ,N型： 50µm 校准 厂家校准，零校准，校准箔校准 数据统计（统计型） 读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，值和最小值 数据存储（统计型） 最多200个测量数值,可单独调出 数据值（统计型） 上下限可调,声音报警 数据接口 红外通讯,IrDA标准 环境温度/表面温度 0-50℃/60℃ （可选配150℃） 电源 两节1.5伏五号碱性电池 仪器尺寸 137x66x23mm 符合标准 DIN，ISO，ASTM，BS
