HAST可靠性试验CAF测试环境箱

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成都中冷低温科技有限公司

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产品简介

HAST可靠性试验CAF测试环境箱,面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之HAST试验箱联动,可高精度连续监测,简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

详细介绍

HAST可靠性试验CAF测试环境箱

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之HAST试验箱联动,可高精度连续监测,简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。


HAST是提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定PCB压合&绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间。


HAST可靠性试验CAF测试环境箱

主要用途

●助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料

●BGA、CSP等精细节距IC封装件

●有机半导体相关(有机EL)

●电容、连接器等其他电子元器件及材料

●各种绝缘材料的吸湿性特性评估


HAST可靠性试验CAF测试环境箱

适用标准

●JPCA-ET04

●IPC -TM-650 _2.6.3F

●IPC-TM-650 2.6.3.1E

●IPC-TM-650 2.6.3.4A

●IPC-TM-650 2.6.3.6









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