S8000冷镜露点仪

密析尔露点S8000冷镜露点仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-03-08 10:52:54
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产品简介

S8000冷镜露点仪集操作简单和高度灵敏于一体的高精度露点仪。 新型S8000露点仪可直接测量露点、温度和压力。露 点测量基于经证实的基础光学冷镜测量原理,S8000冷镜露点仪可在整 个工作量程内,得出长期稳定、无漂移的湿度测量结 果。利用这一测量方式,S8000提供一系列测量单位, 包括ppmV、优良湿度、相对湿度和ppmW。

详细介绍

S8000冷镜露点仪Michell冷镜露点仪密析尔露点

集操作简单和高度灵敏于一体的高精度露点仪。 新型S8000露点仪可直接测量露点、温度和压力。露 点测量基于经证实的基础光学冷镜测量原理,可在整 个工作量程内,得出长期稳定、无漂移的湿度测量结 果。利用这一测量方式,S8000提供一系列测量单位, 包括ppmV、优良湿度、相对湿度和ppmW。 其他产品:微量氧分析仪,药品残氧仪,露点仪,热导气体分析仪,GE流量计,OX-1氧传感器,顶空分析仪,红外气体分析仪,高温湿度仪,西门子U23分析仪,ppb微量水分析仪,OXY.IQ氧分析仪,烟气湿度仪,燃气热值仪,Kaye温度验证仪,L&W白度,仪激光氧分析仪,压缩空气露点仪,干燥机露点仪,激光气体分析仪,便携式露点仪,便携式微量氧分析西门子氧电池\oxy-12\ultramat-23代表U23氧模块价格|PID传感器 总代理|代表处|办事处|价格


S8000冷镜露点仪亮点

  • **度为± 0.1°Cdp(± 0.18°Fdp)
  • 基准的、**的测量、无漂移
  • 简单的触摸操作配置界面
  • 精准测量-60°C(–76°F)露点
  • FAST技术–确保0°C(+ 32°F)以下镜面结霜
  • 工作压力高达2MPa(20barg)
  • 支持USB、Ethernet、RS485或RS232连接
  • 通过SD卡或数字端口进行数据记录
S8000

S8000冷镜露点仪技术参数

露点传感器性能
测量技术 冷却镜面
精度* ±0.1°C (±0.18°F)
重复性 ±0.05°C (±0.09°F)
量程范围 -60至+ 40°Cdp(-76至+ 104°Fdp)
运行温度 低压版 0至1barg/14.5psig
高压版 0至20 barg/290 psig
样本流速 0.1至1Nl/min(0.2至2.1scfh)
检测系统 RRS三重检测
S8000冷镜露点仪远程PRT探针(备选)
温度测量 4线Pt100, 1/10 DIN B级
测量精度 ± 0.1°C(± 0.18°F)
线缆长度 2m(6.6’)(*长250m(820’))
流量传感器
测量精度 通常± 5%,未校准
量程范围 0至1000ml/min
集成压力传感器(可选)
量程范围 0至25bara(0至377psia)
测量单位 psia、bara、KPa或MPag
监视器
分辨率 **至0.001,用户可自行选择,取决于设备参数
测量单位 °C 和°F用于露点及温度%RH、g/m3、g/
kg、ppmV、ppmW(SF6),用于湿度计算
输出 3个频道,用户可从4-20mA、0-20mA或0-1V中自行选择
数字信号 USB、备选RS232和RS485通讯接口或以太网TCP协议
报警信号 2个无电压转换触点,1个过程报警,1个故障报警;30V DC下1A
HMI 5.7” LCD触控屏,蓝屏白字
数据记录 内置SD卡(512Mb)和USB接口
SD卡(FAT-32) — *高32Gb,可存储2400万条数
据或以2秒间隔累计记录560天
环境条件 -20至+ 40°C(-4至+ 104°F)
供电 85至264V AC,47/63Hz
功耗 100 瓦
EMC - 评定 符合EN61236:1997(+ A1/A2/A3)
S8000冷镜露点仪结构规格
尺寸 187 x 440 x 343mm(7.36 x 17.32 x 13.5”)高 x 宽 x 长
重量 11.4kg(25.1lb)
通用
过程连接 6mm Swagelok®(公接头)
或1/4” Swagelok®(公接头)
储存温度 -20至+ 50°C(-40至+ 122°F)
校准 3点可溯源原厂校验(标准)
或经UKAS认证的校准机构 - 详情咨询密析尔仪表公司E氧分析仪|进口氧分析仪品牌|微量氧分析仪|价格|批发|厂家|Teledyne氧分析仪|AII氧分析仪|Southland氧分析仪|AMS氧分析仪|Ntron氧分析仪|恩特龙氧分析仪|AOI氧分析仪|ADV氧分析仪|AST氧传感器|仕富梅氧分析仪|Neutonics氧分析仪|HiTech氧分析仪|西门子氧分析仪|富士氧分析仪|Zirox氧分析仪

* 测量精度指测试和校正参考下仪器的*大偏差。还应考虑测试和后续使用中校准系统及环境条件的不确定性。
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