BSD-PS多孔碳化硅材料比表面及孔径分析仪

简介内容：贝士德3H-2000PS型介孔材料比表面及孔径分析仪，具有2/4个样品预处理脱气站，1/2/4个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：，微孔：、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。 参考价面议

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