在超声波检测技术中，探头与探伤仪的组合性能好坏对检测结果可靠性有很大影响。在选购、鉴定探头时，往往现场没有全套合适的检验试块，而若自行携带例如iiw1、cs-1或cs-2等试块又过于笨重。本文介绍笔者自行设计制作的一种轻便型检验试块，可以很方便地检验直探头和组合双晶直探头的主要性能，其形状如右图所示。试块材料为ld5铝合金，重量只有0.6公斤左右，携带很方便。
使用方法：

1.测定直探头的底面分辨力
将待测探头与探伤仪连接后，耦合在试块的右端面上，声束朝向φ1-100mm平底孔，使平底孔zui大回波高度达到50%满刻度，然后提高仪器增益，使该回波后沿与底波前沿之前的波谷上升到50%满刻度，所需的分贝值（db）即为底面分辨力，这是一种相对比较，db值越大，说明该探头的底面分辨力越好。

2.测定直探头的灵敏度
仍将探头放置在上面所述的位置，将探伤仪的灵敏度开到zui大（以电噪声不超过10%满刻度为限），然后降低仪器增益，直至平底孔zui大回波高度下降到50%满刻度，所需的db值即为探伤灵敏度余量，其测试结果与cs-1钢试块的φ2-100mm平底孔的测量结果相当，只是铝合金的超声衰减比钢要小。

显然，测得的db值越大，说明该探头的灵敏度余量越大，也就是说该探头的灵敏度越高。
3.测定组合双晶直探头的底面分辨力
把组合双晶直探头耦合在试块平面上，声束对准φ1-20mm平底孔，操作与（1）中的相同，使平底孔zui大回波高度达到50%满刻度时，测定该回波后沿与底波前沿之前的波谷上升到50%满刻度所需的分贝值（db），这是一种相对比较，说明该探头的底面分辨力越好。
4.测定直探头的近表面分辨力
以φ1-100mm平底孔zui大回波高度为50%满刻度时，不改变其他条件，把直探头耦合到试块平面上，逐个探测埋藏深度从20mm到2.5mm的φ1mm平底孔。以zui近的可分辨平底孔回波的埋藏深度作为近表面分辨力，此时该平底孔回波前沿与始波后沿间的波谷应至少低至20%满刻度。
5.测定组合双晶直探头的近表面分辨力
首*行上述的第（3）项，使φ1-20mm平底孔zui大回波高度为50%满刻度时，不改变其他条件，移动探头逐个探测埋藏深度从10mm到2.5mm的φ1mm平底孔，用与（4）同样的方法确定近表面分辨力。
6.简易测定直探头情况下仪器的垂直线性
把直探头耦合在试块的长侧面上，声束指向距离40到60mm的侧面，首先对正60mm侧面（注意避开孔的干扰），使*次底波下降到50%满刻度，然后移动探头指正40mm侧面，其底波高度按理论计算应升高3.5db，测试实际升高值并与理论值比较，作为相对比较，可以简易评定超声探伤仪的垂直线性好坏，但这种方法不适用于近场长度较长的探头。
7.简易测定仪器的水平线性
把直探头耦合在试块的平面上，以试块上的40mm厚度按一般通用方法（五次底波法、六次底波法等）校验仪器的水平线性。
此外，利用该试块也可以测定仪器的动态范围、组合双晶直探头的灵敏度等，方法与一般情况相同。
总之，该试块以其轻便多用途为特点，经过多年实践证明，在选购探头和仪器，以及现场检验时都有着*的优点。使用者还可根据本单位检测对象的需要换用不同直径的平底孔（例如笔者实际上还采用了φ1.2mm平底孔）