综述
德国斯派克新一代SPECTROLAB 是高性能与灵活性的结合。*的优化光学系统由光电管和CCD双光学系统合二为一，这是迈向全新概念金属分析仪。新技术不但提高了分析性能，简化了操作程序，更重要是大大扩展了灵活性。新一代SPECTROLAB 秉承了前一代的成功之处，赋予更多革命性创新。几乎所有部件拥有了新的生命，其中很多是全新的发明。这些对分析性能至关重要的部件组群包括激发光源、光学系统和读出系统。新技术组群量子跃迁般的发展进步，相互优化匹配使得同时具备*分析性能和极大灵活性的 SPECTROLAB 成为无以匹敌的直读光谱仪。新一代SPECTROLAB 设定了样品分析的新标准：分析时间更短，火花台清理维护更少。全新的硬件诊断功能，实时可视监控硬件运行情况。 特点
配备技术自循环净化装置（UV-PLUS）的光学系统
SPECTROLAB的光学系统集合了传统光电管光学系统和CCD全谱光学系统的所有优点。采用优化帕邢—龙格原理的“半壳”铸造铝框架技术提供了超常坚固的机械结构，同时减小了内部容积。为减少外部环境的影响，光学系统内部恒温恒压。
主光学系统内部包括两个独立的光谱模块—光电管光学部分和CCD光学部分，各自配备一个原级全息光栅。第三光学系统是一个独立的空气光学系统，将波长范围扩展到780 nm。的自循环净化系统（UV-PLUS）用于测量紫外波段（UV）和远紫外波段（VUV）光谱。严格密封的光学室内部充以氩气，无需复杂的技术可以实现紫外及远紫外光在光学系统内不被吸收。分子薄膜泵驱动氩气在光学系统内部和净化装置中循环。可以避免采用真空系统产生的油蒸气污染或流动冲气系统带来的外部污染。保持洁净的光学系统和优秀的长期稳定性表现。UV-PLUS的优点是大大降低了运行成本，并且在120-180nm的远紫外光谱波段提供了出色的光学表现。
*的光学系统结构和的UV-PLUS技术，使得创新的SPECTROLAB光学系统能够记录120-780 nm波段的所有的一级相关光谱信息，CCD光学系统的光谱分辨率达到 9 皮米。
等离子发生器激发光源
研发的SPECTRO高效等离子发生器激发光源可以提供稳定的火花放电。采用全数字信号发生和激发过程控制，激发区域的等离子能量可以高精度、高保真输出。由于具备了全新的激发参数设置以及高纯度的信号输出，激发光源的精度得以显著提高。分析精度因此显著提高，分析周期大大缩短。对于标准应用程序，每次分析时间不超过18秒。
分析性能
根据用户需求，量身定制。十种标准基体铁、铝、铜、镍、钴、镁、钛、锡、铅和锌, 可以与五种贵金属基体：金、银、铂、钯和钌组合配置。在 CCD 光学系统中可以实现120-780nm 波长范围内所有元素的全谱记录。在光电管光学系统中最多可以放置 108 个高性能光电备增管通道，每个通道配有微积分器（TRS 功能）和单火花评估（SSE 功能）。由此可以保证每一分析要求得以化满足。配备现代化的光谱技术和高质量的组成部件，SPECTROLAB 适用于各种分析要求。出众的分析性能与高度灵活性相结合，能够胜任诸如：过程控制分析，来料及成品检验，研究开发部门、检验检测机构等各方面分析任务。
读出系统
全新设计的读出系统可以同时处理来自光电管检测器和CCD检测器的信号。共有22块（加第三光学系统共37块）CCD检测器，每个CCD包括3800 像素，类似全谱波长扫描，测量后大量数据结果可以集中显示。这为材料研究（如未知材料判定，新合金配方等）提供了全新的分析手段。日常分析过程基于选定的光谱线，只有元素的信号被采集。这可以实现瞬时信号的实时采集。分析结果可以取自整个测量过程中某一时序的瞬时信号测定。根据应用要求，某些光谱线采用光电倍增管测量。光电流由微积分器处理，可以实现微秒级测量，每一单个火花放电过程可进行100次以上的步进测量，每个光电管通道的光谱峰值由步进过程描迹而成。实现这些步进过程测量以后，就可以根据需要定义测量“窗口”为其中某一时段动态范围或信背比时段（痕量火花分析技术SAFT）,用以分析微量元素。相对于传统的积分测量技术，现在可以测量每一单个火花的放电信号，而不是将千百次火花放电的总信号量积分成一个总量。由此实现剔除因样品中夹杂物或气造成的“失败”放电信号。SSE单火花评价技术可以显著提高分析性能。可以按照分析要求分别独立定义每一光电管通道的SAFT和SSE功能，也可以在一个分析周期内多次定义。这一灵活性可以在最短的分析时间内获得分析结果。
火花台
火花台光路直接耦合到光学系统。第三光学系统通过光导纤维连接到火花台。火花台内部空间减少，配合优化的氩气流向，使得氩气消耗量在减小的同时有效驱除激发粉尘。尾气进入双过滤系统除尘。火花台的维护和双过滤系统的维护工作量很低。样品夹可以左右移动，并配有安全回路。可以适应快速更换样品，广泛适用于各种样品外形。可以选购样品夹具分析诸如小试样、线材样品或薄片样品。
样品分析
SPECTROLAB的人性化设计大大降低了校准和维护工作量，使操作人员的日常工作更容易。每日样品输出量也将大大提高。Spark Analyzer Vision 软件包集成了硬件诊断系统。连续检查并将每天的仪器运行状态存档。另外，软件的界面简单、直观，功能丰富，便于和外部计算机交换数据。实现材料牌号鉴定，合格样品的判定，程序自动查找等功能。集成的SQL数据库完成丰富的数据管理功能。
软件
导航条实现点击进入三个主要功能程序模块：分析模式、方法建立和参数配置。在测量窗口操作者可以同时看到多次测量值和平均值。使用 Windows 剪贴板功能可以快速轻松地实现将测量结果或其他数据粘贴到不同的窗口界面。 技术配置
多光学系统
·帕邢 -龙格结构
·光栅焦距 750 mm，罗兰圆
·光学系统恒温
·分析波长范围：120-780 nm
·的氩气自动循环气体净化系统，用于分析小于 200 nm 波长
·光路氩气冲洗系统
·全息原级光栅 3600，2924 线／毫米
·光栅材料：微晶石英
·色散率
主光学系统
3600 线／毫米光栅，0.37 nm／mm (1级光谱)2924 线／毫米光栅，0.46／0.23 nm／mm(1／2 级光谱)第三光学系统 400 mm 焦距2400 线／毫米光栅，1.04 nm／mm (1级光谱)火花台
·开放式火花台，大样品量输出
·适于分析多种几何形状的样品
·低氩气消耗量
·减少分析工作量和维护时间
·易于更换的火花台盖板
·热量吸收装置，无需水冷却
·采光快门优化观测角度激发系统
·全数字等离子发生器。数字放电参数设定，数字脉冲发生器，数字离线脉冲控制
·32 MHz 微处理器控制
·采样速率：200 微秒 400 次
·能量分辨率：125 毫瓦
·最长单次火花放电时间：4000 微秒
·火花功率：4千瓦
读出系统
·光电管和 CCD 系统平行运行
·平行 12 Bit 模数转换器，每个信道1 MHz
·系统和操作过程自动诊断
软件
·基于 Windows 系统的用户友好界面
·以 SQL 数据库自动存储分析结果和统计数据
·可用样品的检测技术 (SATEUS)，自动检测出预激发过程中有缺陷的样品
·自调整预激发技术 (SERPS)， 自动优化预激发时间，直至消除样品缺陷
·测量可靠的检测技术 (SETEME)，可自动检测出分析过程中的有缺陷的样品
·硬件故障自动诊断 (可视系统和维护诊断)微机控制系统
·外置计算机控制
·Windows 操作系统
·键盘和鼠标
·打印机
仪器尺寸
·1674× 771× 1409 毫米 (长× 宽× 高)
重量
·重约 520 kg (不包括附属设备)
电源要求
·230 VAC -15％／+10％，50 HZ
·待机功率 0.5 kVA
·激发功率 1.0 kVA
·16 A 慢熔保险