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面议Dor Yang UV756/756CRT 扫描型紫外分光光度计
面议仪器特点
l操作简单,测试速度快,灵敏度好,测量精度高
l大容量存储,可存贮800多个测量数据
l具有两种测试方式:连续(CONT INUE)和单次(SINGLE)测量方式
l设有四个统计功能:zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)
l连接电脑进行通信,读出存贮数据进行保存或打印(适用U型主机)
l可采用两种校准方式:零点校准和两点校准
l操作过程有蜂鸣声标示(单次测量方式)
l自动识别铁基和非铁基底材
l公英制转换μm/Mil
l背光显示模式,低电压指示
l手动/自动关机功能
技术参数
A、测量范围:0-1250/3000μm(超过1250μm要提前告知厂家另行定制)
B、使用环境:温度:0℃-50℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用
C、zui薄基体:0.4mm
D、测量精度:±(1%-3%)H+1.5μm
E、分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)
F、zui小基体面积10*10mm
G、zui小曲率:凸5mm;凹25mm
H、外形尺寸:130mm*70mm*24mm
I、重量:100g
J、电源:三节(7号)碱性电池
仪器使用方法说明
仪器装上电池后,按下“ON/OFF”按键开机,等蜂鸣声响后,液晶显示屏上显示"0"时,仪器自动进入测量状态,直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上,仪器通过测头自动测量出涂层厚度,并通过显示屏把厚度值显示出来(注意:测量时注意测头保持垂直)
出厂清单
序号 | 物品名称 | DR260(标准配置) |
1 | 主机 | √ |
2 | 标准片 | √ |
3 | 基体 | 铁基体一块√ |
4 | 电池 | √ |
5 | 说明书 | √ |
6 | 合格证 | √ |
7 | 清洁布 | √ |
8 | 通讯数据线 | 适用于U型主机(选配) |