激光损伤阈值测试仪(LIDT)

    本产品是西安工业大学苏俊宏教授团队历经16年产品研发与迭代，形成了多波长共光路设计方案，实现了集成多种评判方法的组合评判技术，研制出产品级的激光损伤阈值测试仪，可以解决光学薄膜激光损伤阈值的精确检测，为激光光学元件、激光薄膜器件的制造等提供硬件支撑。

    测试仪具有数字化、智能化、集成化特点，操作简单，全自动测试，激光损伤阈值的测试可一键完成。同时采用触摸屏输入输出，具有100-450×显微校验系统，对可疑点可随时进行校验。能够实现光学元件或薄膜的激光损伤阈值测试，还可进行薄膜元件的激光预处理，提高其激光损伤阈值。目前已经研制出激光损伤阈值测试仪功能样机，激光输出波长1064nm/532nm，脉冲宽度10ns，测试范围0-100J/cm2，测试系统分辨率0.2J/cm2。

    本装置可以根据客户的要求，进行定制研发。实现中红外波长，紫外波长等更多通道的集成与处理。

激光薄膜损伤阈值测试仪主机

自主开发的软件，全自动测试

：吴慎将