涂层测厚仪F1探头

涂层测厚仪F1探头

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2024-01-02 12:08:49
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亚测（上海）仪器科技有限公司

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产品简介

涂层测厚仪F1探头

详细介绍


涂层测厚仪F1探头

☆测量范围：0.0～10000mm

☆工作频率：1000～15000m/s

☆检测精度：0.2～20MHz

☆示值误差：0.01







产品简介

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F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是时代涂层测厚仪的标配探头。

涂层测厚仪F1探头

涂层测厚仪F1探头

  • 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
  • 测量范围：0-1250um
  • 示值误差：
    1. 一点校准：±[3%H+1]um
    2. 两点校准：±[(1～3)%H+1]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径：凸1.5mm
    2. 基体最小面积的直径：Ф7mm
    3. 最小临界厚度：0.5mm
  • 探头尺寸：Ф12X47mm

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