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硅材料综合测试仪

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产品简介

型号： JX2008 产品概述： JX2008电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

参数	1.具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。 2.电阻率分档直观，P/N报警门限分设。 3.预设样片厚度，自动修正，直读电阻率 4.P/N分选精度 5.交流电AC220V供电 6.主机尺寸：155×120×50mm 6.电阻率:0.001-100欧姆厘米 7.P/N型号:0.005欧姆厘米电阻率<>欧姆厘米

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