激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。

  一、用 途：

    PG20-JE型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。

    PG20-JE型激光平面干涉仪工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90^o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。

   二、特 点：

   PG20-JE型激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。

PG20-JE

    根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。

 三、主要技术参数：

1、标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm
                        不平度小于0.02μm(λ/30)。
2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm
                        不平度小于0.03μm(λ/20)。
3、准直系统：孔径F/2.8， 工作直径：D1=Φ146mm
                       焦距：f=400mm.
4、测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40^o
            成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10
                f=16     f=23     f=37
5、干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。
6、光源规格：激光ZN18（He-Ne）。
7、仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。
8、仪器重量：100公斤。 

       产品的技术参数随技术的发展会有所更新，欢迎咨询。