激光平面干涉仪XQ15-GI

激光平面干涉仪XQ15-GI

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-06-28 07:24:33
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安徽无陌光学仪器有限公司

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产品简介

XQ15-GI 激光平面干涉仪

详细介绍

用途:

  可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

特点:

  防震性能好、有的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品,大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

 

标准平面(A面),工作直径D1=Φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

第二标准平面(B面),工作直径D2=Φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm

光源规格-----------------激光ZN18(He-Ne)

干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm


可选配摄像装置

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