可控硅老化系统

可控硅老化系统

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2024-11-11 12:10:29
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杭州高裕电子科技有限公司

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产品简介

可控硅老化系统符合标准:MIL-STD-750、GJB-128等试验标准

详细介绍

可控硅老化系统

符合标准:MIL-STD-750GJB-128等试验标准。

适用范围:适用于各种封装形式的可控硅(闸流晶体管)寿命试验(功率循环)和耐压试验。

 

产品型号

PC–CS-100A-AC

HTRB-CS-AC

产品名称

可控硅交流寿命老化系统

可控硅高温交流耐压老化系统

试验温区

强迫风冷,水平风道, 20套风冷系统

高温试验箱1 温度范围:室温~200

试验区域

10

8

试验通道

20

16

试验工位

20

22×16=352

试验电源

105V/200A交流电源

8台交流高压稳压源。1000V/1A

试验电流/电压

5~100A

试验电压1000V AC

驱动检测板

20

16

ON/OFF控制系统

20


温度检测系统

20


上位机

工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。

主要功能

◆ON/OFF时间、循环次数、试验电流上下限。

实时监测显示老化参数(IFVFTC)及循环次数;

实时记录保存老化参数(IFVFTC);

实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超间;

老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。。

◆漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定;

◆实时监测显示老化参数(IRVRTemp)及老化时间、老化进度;

◆实时记录保存老化参数(IRVRTemp);

◆实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超间;

◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。

电网要求

三相AC380V10KW

单相AC220V4KW

外形尺寸

WхHхD165х188х105cm

WхHхD138х188х112cm

重量

500kg

500kg

 

 

 


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