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CHUCK探针台 维修升级改造服务
¥9999探针台CHUCK系统维修
¥99999TS-780热流仪在RF测试中的应用
¥99999Thermal system高速低温气流冲击试验机
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¥99999zonglen HAST偏压老化测试系统
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装,半导体,微电子芯 片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速 寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和 薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
zonglen HAST偏压老化测试系统
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温 度中,(环境温度依据被测元件规格设定)给被测元件施加一定的偏置电 压。同时控制系统实时检测每个材料的漏电流,电压,并根据预先设定, 当被测材料实时漏电流超出设定时,自动切断被测材料的电压,可以保护 被测元件不被进一步烧毁。
zonglen HAST偏压老化测试系统
应用于二极管,三极管,MOSFET,IGBT,SBD,GaN Fet, SCR以及各种封装 形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。