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GT/S-06桌上型高低温试验箱zonglen
桌上型高低温试验箱zonglen，高温试验箱，满足各种产品、零部件及材料在高温恒温环境下贮存、运输、使用时间适应性试验要求。 箱体外胆采用优质钢板喷塑处理，箱体内胆采用不锈钢镜面板（或拉丝板）氩弧焊制作而成，耐高温硅胶迫紧。产品控制*、温度均匀、安全可靠、系列齐全。 参考价￥8888 -
ZONGLEN热流仪Thermal Inducing System
热流仪Thermal Inducing System，是一台精密的高低温冲击气流仪，具有更guan泛的温度范围-70℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。 参考价￥11111 -
HAST-400HAST高加速应力试验系统
HAST高加速应力试验系统，高加速应力测试系统HAST-400，适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。 参考价￥11111 -
ZONGLEN液晶显示屏测量 热流仪 高低温系统试验
液晶显示屏测量 热流仪 高低温系统试验，ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。 参考价￥11111 -
ZONGLEN热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验
热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验，ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。 参考价￥11111 -
SMC chiller温控器冰水机HRS090维修服务
SMC chiller温控器冰水机HRS090维修服务，半导体专用温控装置（Chiller）主要用于半导体制程中对反应腔室温度的精准控制，主要由热交换器、循环泵、压缩机和控制系统构成的一个自我平衡的循环装置，属于生产过程中的温控设备。 参考价￥8888 -
Espec日本爱思佩克高加速老化HAST维修
Espec日本爱思佩克高加速老化HAST维修，是一种环境应力测试设备。它通过模拟产品在长时间使用过程中可能遇到的各种环境条件和应力，如极低的温度、振动和电压等，以测试产品的可靠性和耐久性。该设备广泛应用于电子、汽车、航空航天、通信等行业，特别是用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。 参考价￥8888 -
日本hirayama平山HAST高加速寿命试验箱维修
日本hirayama平山HAST高加速寿命试验箱维修，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到模具/装置上.测试已成为某些行业的标准。 参考价￥8888 -
CASCADE MICROTECHCHUCK探针台 维修升级改造服务
CHUCK探针台 维修升级改造服务，随着半导体产业，光电行业，尤其是第三代半导体的飞速发展，芯片CP晶圆级的测试要求的越来越重要。传统针测设备很多已经无法满足测试需求，如：更低温度需求，高压大电流，低漏电低噪声等等。为了满足客户的需求，我们基于自身温控系统的技术优势，致力于为客户打造低成本的探针台CHUCK系统升级方案。 参考价￥8888 -
B-HASTHAST偏压老化测试系统
zonglen HAST偏压老化测试系统，B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯 片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速 寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和 薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。 参考价￥11111 -
EM-HASTzonglen绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统
zonglen绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统 ，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。 参考价￥8888 -
EM-HASTzonglen绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）
zonglen绝缘电阻劣化（离子迁移CAF） ，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。 参考价￥11111