接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860-成都中冷低温科技有限公司手机版

详细介绍

接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860

用于需求高温、低温、高低温进行测试/温度控制的工艺，如：材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860

接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。

接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860

应用场景：

桌面手动测试

配合测试机使用（ATE）

接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860 优点